IPDS II

Monokrystalový rentgenový difraktometr

Spolehlivý rentgenový monokrystalový difraktometr s plošným snímačem (Imaging Plate)

  • Plošný snímač, aktivní povrch o průměru 340 mm
  • Široký dynamický rozsah > 1: 105 (16 bitů)
  • Velmi nízká hladina šumu, (potlačení tmavého proudu detektoru)
  • Vynikající výsledky pro materiály se slabým rozptylem
  • Velký rozsah intenzit v rámci jednoho měřeni
  • Dlouhá životnost, nízké náklady na provoz a údržbu
  • Možnost použití standardních zdrojů záření Cu, Mo, Ag a zdrojů Cu, Mo, Ag s mikrofokusem a rentgenovou optikou
  • Možnost připojení dvou systémů k jednomu zdroji záření
  • Možnost použití nízkoteplotních, vysokoteplotních a vysokotlakých komůrek
  • Spolehlivost: desetiletá záruka na komponenty vyrobené firmou STOE

Nový 32bitový software X-Area byl navržen pro práci se všemi přístroji STOE s plošnými detektory, systémy IPDS II, IPDS 2T a novým systémem STADIVARI s detektorem DECTRIS PILATUS. Zahrnuje osvědčené softwarové nástroje:

  • Recipe
  • X-Shape
  • X-Red32

ZÁKLADNÍ RYSY
  • Vysoká kvalita dat; 32 bitů na pixel, neomezený počet reflexí pro vypřesnění parametrů mřížky
  • Oddělení příspěvků α1 / α2 pomocí eliptického profilu reflexe
  • Komplexní grafické uživatelského rozhraní (GUI) pro měření a zpracování dat umožňuje operativní kontrolu analýzy a zpracování dat na vysoké úrovni
  • Zvýšení flexibility díky dynamické správě paměti
  • Plná integrace STOE FaceitVideo

SBĚR DAT
Ovládání přístroje / Měření / Optimalizace
  • Intuitivní rozhraní difraktometru nabízející přímý přístup ke všem funkcím
  • Snadné centrování vzorku pomocí integrované funkce FaceitVideo
  • Automatizovaná měření jsou spouštěna v ovládacím programu pomocí několika kroků
  • Software plošného detektoru se 32 bity na pixel umožňuje dosažení vysoké přesnosti získaných dat
  • Uživatelsky přátelské grafické rozhraní (GUI) optimalizuje měřící strategii (např. vzhledem ke krystalové symetrii studovaných fází a jejich orientaci), což umožňuje rychlejší a cílenější sběr dat

JUSTACE KRYSTALU

Videokamera usnadňující centraci krystalu nebo, v případě potřeby, i indexaci krystalových ploch


OPTIMALIZÁTOR MĚŘÍCÍ STRATEGIE

Výkonnný nástroj pro časovou optimalizaci sběru dat.


PREZENTACE
Grafika
  • Software X-Area je srozumitelným grafickým nástrojem pro zobrazení a kontrolu načtených snímků
  • Možnosti interaktivního zobrazení poskytují snadno použitelný způsob kontroly kvality analyzovaného krystalu, např. snadné prověření neočekávaného oddělení reflexí
  • Kontrola přítomnosti anomálních efektů difrakčních záznamů, jako je difuzní rozptyl

INSPEKCE REFLEXÍ

Sofistikovaný grafický software pro bližší náhled snímků


ZPRACOVÁNÍ OBRAZU
Indexování / Základní buňka / Vypřesnění
  • Multi-processing mod pro rychlé vyhledání reflexí
  • Zbývající reflexe mohou být indexovány buď automaticky nebo na základě robustního grafického programu
  • Parametry základní buňky jsou vypřesňovány dle krystalové soustavy
  • Vypřesnění neomezeného počtu difrakčních linií

ROBUSTNÍ INDEXACE

Grafika pro indexování umožňuje uživateli plnou kontrolu kvality krystalu


GRAFICKÝ NÁHLED

Snadná detekce efektů, jako jsou satelitní reflexe, v průběhu indexování

Integrace

  • Použití eliptických profilů reflexí pro oddělení Kα1 / 2 integrační proces
  • Automatizovaná optimalizace integrovaných parametrů
  • Automatická detekce překryvů reflexí
  • Grafická kontrola procesu integrace
  • Stínění oblastí detektoru definovaných uživatelem
  • Automatický výpočet stínících masek pro vysokotlaké cely
  • Výchozí nastavení datového souboru intenzit kompatibilní s programem SHELX
  • Volitelný soubor kompatibilní s XD

INTEGRACE REFLEXÍ

Datové soubory s přesnými intenzitami díky spolehlivému procesu integrace reflexí


ANALÝZA DAT
  • Identifikace centrosymetrie prostorové grupy pomocí grafu e-statistics
  • Nástroj pro pohodlné stanovení Laueho grupy
  • Automatické určování prostorové grupy
  • Grafický nástroj pro zobrazení difrakčních linií v reciprokém prostoru
  • Prohlížení komplikovaných difaktogramů pomocí vrstev v souřadnicovém systému reciprokého prostoru, vytvořeném z jednotlivých snímků
  • Přepočet pixelů snímků do podoby teoretických „práškových difraktogramů“

LAUEHO ANALYZÁTOR

Rychlá a snadná identifikace Laueho grupy


KOREKCE
  • Korekce Lorenzovy polarizace (LP) a absorpce vzduchem
  • Korekce absorpce v závislosti na vlastnostech krystalu (numerická korekce nebo změna měřítka intenzity na základě sférických harmonických parametrů)
  • Automatizovaná verze STOE’s X-Shape
  • Škálování snímků pomocí polynomů
  • Korekce na rozklad krystalu (korekce pro rozkład krystalu)
  • Vyhledání odlehlých hodnot

X-SHAPE

Automatizovaná optimalizace tvaru krystalu pro numerickou korekci absorpce


ROZŠÍŘENÍ
Multidoménové systémy
  • Poloautomatické indexování reflexí jednotlivých domén
  • Simultánní integrace intenzit reflexí až osmi domén, plná kontrola grafiky
  • Škálování intenzit pomocí sérií souvisejících reflexí

DIAGNOSTICKÉ DIAGRAMY

Vizuální kontrola pro zvýšení kvality dat po škálování
Nesouměřitelně modulované struktury (Incommensurately Modulated Structures)

  • Výpočet parametrů hlavní mřížky
  • Určení a vypřesnění až tří q vektorů
  • Integrace hlavních reflexí i satelitů
  • Zpracování difrakčních záznamů nesouměřitelně modulovaných vícedoménových krystalů (incommensurately modulated multi-domain crystals)

MULTIDOMÉNOVÁ INTEGRACE

Příklad integrace dvou domén (tyrkysově: skupiny překrývajících se reflexí)